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電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測(cè)試裝置技術(shù)規(guī)范
電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測(cè)試裝置技術(shù)規(guī)范技 術(shù) 參 數(shù):
本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測(cè)試周期：1~9999次
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，總扭曲角度30°
長(zhǎng)邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長(zhǎng)邊小位移量為2mm±0.50mm，
短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長(zhǎng)邊小位移量為1mm±0.50mm，
夾具安裝尺寸*按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測(cè)試裝置技術(shù)規(guī)范產(chǎn)品用途：
用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
